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| 30KV ESD에서의 USB 플래시드라이브 충격 데모 |
플래시드라이브 메모리모듈과 미니 MP3플레이어의 ESD보호는 주로 시스템 아키텍쳐 전체와 온칩 서지(surge) 보호에 중점을 두고 있습니다. 이제품들은 잠재적인 ESD손상을 받기 쉬울수 있습니다. 하이앤드드라이브나 MP3 플래이어같은 고부가치 제품에 손상이 더 큰 문제 입니다. 필드고장은 브랜드 가치에 부정적인 이미지를 가져 올 뿐만 아니라 제품의 반품이나 교환, 또한, 고장원인과 분석의 확인 시간과 인력 비용이 듭니다.
EN 61000-4-2과 IEC 1000-4-2기준에 언급된 공중방전과 접촉방전의 방법을 사용하여, 많은 USB 플래시 메모리 드라이브는 LED (주된 고장부분)이나 seam (차순위 고장부분)에 방전모드를 맞추었을 경우, 12KV에서 16.5KV사이에서 고장을 잃으키는 것을 발견하게 됩니다. 방전모드가 적용될 때 대기상태에서 제품을 읽고, 쓰고, 작동에 문제가없는것이 합격조건입니다. |
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| 접지된 벤치 위에서의 USB 플래시드라이브의 공중방전 (왼쪽) 접촉방전 (오른쪽) |
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To demonstrate: |
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a) |
USB 플래시 드라이브 방지영역의 대폭 확대 및 |
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b) |
VSD™물질의 제조성과 실행을 데모하기 위하여 |
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| 256MB부터 4GB까지 지원하는 드라이브의 디자인을 변경하였고 개념증명(proof of concept)을 위해 VSD™ 고분자 나노 복합물로 강화하였습니다. 틀별히 이 애플리케이션을 위해, 이 제품 라인에 최소 400volt 클램프 접압을 공급 하게끔 재료를 지정하였습니다. |
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앞서언급한 기준에 의가하여 테스트하였고, LED와 적합영역에 방전모드를 적용한 후에도 플래시 드라이브는 스탠드바이 상태에서 읽고, 쓰고, 작동하는 것으로 확인되었습니다. |
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그림은 XStatic™-100 성분으로 강화된 USB 플래시 드라이브에 30KV 공중방전을 가하는 것입니다. XStatic™-100은 VSD™의 한 예입니다. 이 제품은 회로 기판에 있는 각 부품에 대해 ESD 발생을 100% 전체적인 보호를 하도록 고안되었습니다. |
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비표준 테스트를 통한 한계 검토 |
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플래시 드라이브 모듈의 고장을 촉진하기 위해, 케이스를 분리하여 오픈드라이브를 EN61000-4-2기준에 의거 양극에 30KV의 공중방전과 접촉방전 반복을 설정했습니다. VSD™으로 개량된 드라이브는 문제없이 작동하였으며 정전기시험기 (ESD 건)의 voltage가 30KV로 제한되었기때문에 현재 이제품이 어느정도의 높은 전앞까지 견딜수 있는 것 인지는 확인 할수 없습니다. 많은 개량된 드라이브를 테스트 하였고 고장은 한번도 발생하지 않고 있습니다. 또한, 이테스트를 적어도 30KV의 5회 데모드라이브로 해봤고, 전체 파일의 저장과 액세스가 되는 정상적인 작동을 하고 있습니다. |
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왼쪽 동영상은 VSD™ 고분자 나노 복합물이 처리된 보호없는 USB 플래시 메모리 드라이브의 회로기판위에 직접 30KV 공중방전을 하고 있는 것을 보여줍니다. ESD건으로부터 전압이 접지된 동판작업대 위에 방전이되면, 스파크가 ESD건에서 부품이 장착된 기판을 거쳐, USB 커넥터로 이동하는것을 관찰할 수 있습니다. 그리고 드라이브는 매번의 테스트에도 계속 작동하는 것을 볼수있습니다.
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